ГОСТ 12645.1-77
ГОСТ 12645.1−77 Индий. Спектральный метод определения галлия, железа, меди, никеля, олова, свинца, таллия и цинка (с Изменениями N 1, 2, 3)
ГОСТ 12645.1−77
Группа В59
ГОСУДАРСТВЕННЫЙ СТАНДАРТ СОЮЗА ССР
ИНДИЙ
Спектральный метод определения галлия, железа, меди, никеля,
олова, свинца, таллия и цинка
Indium. Spectral method for determination of gallium, iron, copper,
nickel, tin, lead, thallium and zinc
ОКСТУ 1709
Дата введения 1978−07−01
ИНФОРМАЦИОННЫЕ ДАННЫЕ
1. РАЗРАБОТАН И ВНЕСЕН Министерством цветной металлургии СССР
РАЗРАБОТЧИКИ
А.П.Сычев,
2. УТВЕРЖДЕН И ВВЕДЕН В ДЕЙСТВИЕ Постановлением Государственного комитета стандартов Совета Министров СССР
Изменение N 3 принято Межгосударственным Советом по стандартизации, метрологии и сертификации
За принятие проголосовали:
Наименование государства |
Наименование национального органа по стандартизации |
Республика Азербайджан |
Азгосстандарт |
Республика Армения |
Армгосстандарт |
Республика Белоруссия |
Госстандарт Белоруссии |
Республика Казахстан |
Госстандарт Республики Казахстан |
Республика Молдова |
Молдовастандарт |
Российская Федерация |
Госстандарт России |
Туркменистан |
Главная государственная инспекция Туркменистана |
Республика Узбекистан |
Узгосстандарт |
Украина |
Госстандарт Украины |
3. ВЗАМЕН
4. ССЫЛОЧНЫЕ НОРМАТИВНО-ТЕХНИЧЕСКИЕ ДОКУМЕНТЫ
Обозначение НТД, на который дана ссылка |
Номер пункта, раздела |
ГОСТ 4461–77 |
Разд.2 |
ГОСТ 6709–72 |
Разд.2 |
ГОСТ 10297–94 |
Разд.2 |
ГОСТ 11125–84 |
Разд.2 |
ГОСТ 12645.0−83 |
1.1 |
ГОСТ 12645.4−77 |
Разд.2 |
ГОСТ 18300–87 |
Разд.2 |
ГОСТ 19908–90 |
Разд.2 |
ГОСТ 22306–77 |
1.1 |
5. Ограничение срока действия снято по протоколу N 3−93 Межгосударственного Совета по стандартизации, метрологии и сертификации (ИУС 5−6-93)
6. ПЕРЕИЗДАНИЕ (март 1998 г.) с Изменениями N 1, 2, 3, утвержденными в феврале 1983 г., декабре 1987 г., июне 1996 г. (ИУС 5−83, 3−88, 9−96)
Настоящий стандарт устанавливает спектральный метод определения галлия, железа, меди, никеля, олова, свинца, таллия и цинка в индии при массовых долях в процентах:
— галлия от 0,0001 до 0,005;
— железа от 0,0001 до 0,01;
— меди от 0,0001 до 0,002;
— никеля от 0,00007 до 0,005;
— олова от 0,0001 до 0,01;
— свинца от 0,0002 до 0,01;
— таллия от 0,0001 до 0,005;
— цинка от 0,003 до 0,01.
Определение содержания примесей в индии проводят по методу «трех эталонов» с испарением примесей из кратера угольного электрода в дуге постоянного тока.
Перед анализом переводят пробу в оксид путем растворения в азотной кислоте и прокаливания в муфельной печи при 400−500 °С в течение 30−40 мин до полного удаления оксидов азота. При определении содержания таллия пробу в оксид не переводят.
(Измененная редакция, Изм. N 1, 2).
1. ОБЩИЕ ТРЕБОВАНИЯ
1.1. Общие требования к методу анализа и требования безопасности — по
(Измененная редакция, Изм. N 2).
2. АППАРАТУРА, РЕАКТИВЫ И МАТЕРИАЛЫ
Спектрограф дифракционный типа ДФС-8 с трехлинзовой системой освещения щели и трехступенчатым ослабителем (первый порядок).
Источник постоянного тока, обеспечивающий напряжение до 200 В и силу тока до 20 А, типов ПН-145, 2ВН-20 и др.
Генератор дуги типов ПС-39, ДГ-2 или ИВС-28 с внешним реостатом для работы при силах тока 15 А.
Микрофотометр, предназначенный для измерения почернений спектральных линий.
Печь муфельная с терморегулятором до 600 °C.
Весы торсионные типа ВТ с погрешностью взвешивания не более 0,001 г.
Весы аналитические с погрешностью взвешивания не более 0,0002 г.
Кварцевый прибор для перегонки реактивов.
Бокс из органического стекла.
Лампа инфракрасная любого типа с лабораторным автотрансформатором типа ПНО-250−2.
Электроплитка.
Индий марки Ин000 по
Ступка из органического стекла.
Посуда кварцевая (стаканы, чашки
Вода дистиллированная по
Кислота азотная по
Спирт этиловый технический ректификованный по
Электроды из графитовых стержней С-2 особой чистоты диаметром 6 мм с глубиной кратера 6 мм и диаметром отверстия 4 мм.
Фотопластинки «спектрографические» типов ПФС-02, ПФС-03, НТ-2 СВ.
Образцы сравнения. Основой для приготовления образцов сравнения служит оксид индия. Готовят основу следующим образом. Металлический индий марки Ин000 растворяют в азотной кислоте. Полученный раствор выпаривают досуха и сухой остаток прокаливают сначала на электроплитке, а затем в муфельной печи при 400−500 °С до прекращения выделения паров оксидов азота (30−40 мин). Необходимо полностью удалять оксиды азота, так как их присутствие в основе увеличивает фон в спектрах, что искажает результаты анализа.
Основной образец готовят накапыванием в основу растворов элементов-примесей (табл.1), приготовленных по приложению 1
Образец высушивают на электроплитке, затем прокаливают в муфельной печи при температуре 300 °C в течение 30 мин, перетирают в ступке. Путем разбавления основного и вновь приготовленных образцов основой готовят серию рабочих образцов сравнения в соответствии с табл.2. Приготовленные образцы и основу хранят в бюксах или банках с крышками.
Примечание. Допускается применение приборов с фотоэлектрической регистрацией спектров и других спектральных приборов, других реактивов и материалов, обеспечивающих получение показателей точности, не уступающих регламентированным настоящим стандартом.
(Измененная редакция, Изм. N 1, 2, 3).
Таблица 1
Элемент, внесенный в основной образец |
Массовая доля элемента-примеси, % |
Масса навески основы, г |
Количество раствора, вводимое |
Галлий |
0,01 |
12,091 |
1,0 |
Железо |
0,02 |
2,0 | |
Никель |
0,01 |
1,0 | |
Олово |
0,02 |
2,0 | |
Свинец |
0,02 |
2,0 | |
Таллий |
0,01 |
1,0 | |
Цинк |
0,02 |
2,0 | |
Медь |
0,01 |
1,0 |
Таблица 2
Определяемый элемент |
Массовые доли определяемых элементов в образцах сравнения, % | ||||
Образец 1 4 г основн. обр. + 4 г основы |
Образец 2 1 г основн. обр. + 9 г основы |
Образец 3 2,5 г обр. N 2 + 5 г основы |
Образец 4 1 г обр. N 2 + 9 г основы |
Образец 5 3 г обр. N 4 + 3 г основы | |
Галлий |
5·10 |
1·10 |
3,3·10 |
1·10 |
5·10 |
Железо |
1·10 |
2·10 |
6,7·10 |
2·10 |
1·10 |
Медь |
5·10 |
1·10 |
3,3·10 |
1·10 |
5·10 |
Никель |
5·10 |
1·10 |
3,3·10 |
1·10 |
5·10 |
Олово |
1·10 |
2·10 |
6,7·10 |
2·10 |
1·10 |
Свинец |
1·10 |
2·10 |
6,7·10 |
2·10 |
1·10 |
Таллий |
5·10 |
1·10 |
3,3·10 |
1·10 |
5·10 |
Цинк |
1·10 |
2·10 |
6,7·10 |
2·10 |
1·10 |
3. ПРОВЕДЕНИЕ АНАЛИЗА
3.1. Пробу металлического индия переводят в оксид, как указано в разд.2.
3.2. Источником возбуждения спектров служит дуга постоянного тока силой 15 А между вертикально поставленными угольными электродами. Пробы и образцы сравнения по 60 мг помещают в углубление угольного электрода (анода) диаметром и глубиной 4 мм. (При определении содержания цинка и в индии марки Ин2 используют угольные электроды с размером кратера 4х6 мм).
Угольный стержень, используемый в качестве контрэлектрода, затачивают на усеченный конус с диаметром площадки 2 мм. Электроды предварительно обжигают в дуге постоянного тока силой 15 А в течение 10 с.
Определение содержания таллия проводят при тех же условиях, но пробу индия не переводят в оксид, а в виде мелких кусочков по 50 мг помещают в углубление угольного электрода и уплотняют набивалкой из органического стекла. Образцы сравнения — в виде оксида индия.
Спектры дуги фотографируют при помощи дифракционного спектрографа с трехлинзовой системой освещения щели и трехступенчатым ослабителем. Ширина щели спектрографа 0,015 мм, расстояние между электродами от 2,5 до 3,0 мм должно сохраняться постоянным в течение всей экспозиции (3−4 мин). При определении цинка время экспозиции 30 с. Кассету спектрографа заряжают двумя фотопластинками типа I для определения меди и цинка и типа II для определения остальных элементов.
Спектры проб фотографируют по шесть, образцов сравнения — по три раза на одной и той же фотопластинке.
(Измененная редакция, Изм. N 1, 2, 3).
4. ОБРАБОТКА РЕЗУЛЬТАТОВ
4.1. На спектрограмме с помощью микрофотометра измеряют почернение аналитических линий определяемых элементов и близлежащего фона. Градуировочные графики строят в координатах , где ; - массовая доля определяемого элемента в образцах сравнения.
По градуировочным графикам находят содержание определяемых элементов в пробе.
За результат анализа принимают среднее арифметическое результатов двух параллельных определений, полученных на одной фотопластинке (каждое из трех спектрограмм).
Фотометрируют следующие аналитические линии (длины волн в нанометрах):
— галлий — Ga I 287, 424;
— железо — Fe I 248,327;
— никель Ni I 300,249;
— олово — Sn I 283,999;
— свинец — Pb I 283,307;
— медь — Сu I 327,394;
— таллий — Tl I 276,787;
— цинк — Zn I 334,502.
Разность между большим и меньшим из двух результатов параллельных определений с доверительной вероятностью не должна превышать значения допускаемого расхождения , рассчитанного по формулам:
— для массовых долей примесей от 7·10до 5·10%;
— для массовых долей примесей более 5·10%,
где — среднее арифметическое двух сопоставляемых результатов параллельных определений.
Разность между большим и меньшим из двух результатов анализа одной и той же пробы с доверительной вероятностью не должна превышать значения допускаемого расхождения , рассчитанного по формулам:
— для массовых долей от 7·10до 5·10%;
— для массовых долей примесей более 5·10%,
где — среднее арифметическое двух сопоставляемых результатов анализа.
(Измененная редакция, Изм. N 1, 2, 3).